Физический энциклопедический словарь - лауэграмма

В каждый дифракц. максимум вносят вклад отражения разных порядков от одной и той же системы кристаллографич. плоскостей

(см. Брэгга — Вульфа условие), что исключает применение Л. для расшифровки структуры кристалла (см. Рентгеновский структурный анализ). По неск. Л., полученным при разл. положениях кристалла, можно определить ориентировку его кристаллографич. осей относительно выбранной системы координат. Л., снятая вдоль к.-л. элемента симметрии в кристалле, обладает центром симметрии, поэтому невозможно однозначно установить принадлежность кристалла к одной из 32 групп точечной симметрии кристалла без привлечения дополнит. данных.

Осн. области применения Л.: ориентировка монокристаллов (в особенности неогранённых), определение точечной группы симметрии, нарушений совершенства внутр. строения кристалла (его блочности, мозаичности, присутствия текстуры и внутр. деформаций), изучение процессов старения и распада в метастабильных фазах (см. Рентгенография материалов), исследование дефектов в почти совершенных кристаллах (см. Рентгеновская топография) и теплодиффузного и когерентного рассеяния.

А. В. Колпаков.